非密封
射频表面贴装器件(SMD)在潮湿环境中容易吸收水分。在回流焊过程中,器件内部吸收的水分会在高温下汽化膨胀,这可能导致器件出现分层或内部结构损坏等可靠性缺陷。具有这种吸湿特性的表面贴装器件被称为湿度敏感器件(MSD)。
1)MSD的湿度敏感特性由以下因素决定:
- A. 设备内部结构:确定设备的湿度敏感等级,包括:封装材料、厚度和体积。
- B. 设备的外部环境:确定设备内部吸收的水分量,包括:外部环境温度、湿度以及在潮湿环境中的暴露时间。
- C. 单板组装工艺:确定设备内部水分的损坏程度,包括:回流焊峰值温度等。
2)备注:
- 1.1塑料和其他非密封封装的SMD是湿度敏感性控制的重点。金属和陶瓷等密封封装的SMD不在本规范的涵盖范围内。
- 1.2本规范中定义的回流焊工艺包括:红外/IR回流焊、对流回流焊、气相回流焊、热风返修工具、浸没式波峰焊等。
- 1.3湿度敏感特性明确定义为高温焊接对MSD的影响。当焊接过程中封装体的表面温度低于200℃时,不在本规范的范围内。
- 1.4J-STD-033C 新增了 J-STD-075 工艺焊接灵敏度等级(耐高温性和清洗性能等)。但考虑到实际操作可行性,本规范并未采纳该等级要求。
2.1 MSL 标准定义
根据IPC/JEDEC J-STD-020标准,设备的湿度敏感等级(MSL)是根据其不同的吸湿能力定义的。详情请参见下表1:
表 1. MSL 标准定义

笔记:
- 2.1.1公司禁止选择 MSL = 6 对湿度敏感的设备。
- 2.1.2不同厂家生产的同一产品代码下的MSL值可能不一致。PDM产品的湿度敏感性取决于产品型号,而非产品代码。实际生产中,应以材料包装上的湿度敏感性等级为准。
2.2 MSL 分类测试程序
在进行测试之前,必须根据器件封装材料的特性确定最小安全等级 (MSL)。测试浸泡时间和回流焊峰值温度等条件均根据确定的 MSL 来设定。如果所有器件样品均通过测试,则该器件符合所确定的 MSL 要求;如果在测试过程中发现器件失效,则该器件不符合所确定的 MSL 要求,必须降低所确定的 MSL 等级并重复测试。详细步骤请参见下图 1:
确定MSL后,按顺序执行以下步骤:
- 初步电气测试
- 初步光学(40倍)检测
- 初始超声扫描
- 烘烤(125℃,24小时)
- 湿润浸渍
- 回流焊
- 最终光学(40倍)检测
- 最终电气测试
- 最终超声扫描
以上适用
电缆 适用于供应商 MSL 的新分类或重新认证要求(也适用于公司 MSL 验证)。
1)测试样品要求:
- 一个。新分类每 MSL 级别 11 件,再认证每 MSL 级别 22 件;
- B.样品必须包含 2 个不连续的包装批次。
2)设备故障标准:
- 一个。在40倍光学显微镜下观察到外部裂纹;
- B.电气性能测试失败;
- C.内部裂纹穿透键合线、内部和外部焊盘区域;或者内部裂纹从外部引线指延伸到内部引线指、芯片和焊盘区域;或者内部裂纹向外延伸超过界面长度的 2/3;
- D.可见的缺陷,例如包膜形状的变化、肿胀或凸起。
笔记:
- 2.2.1术语定义:裂纹发生在封装材料的某个特定材料内部;分层发生在封装材料不同材料的界面之间。
- 2.2.2器件在回流焊测试前后的分层情况并非直接判定其失效的标准。详情请参阅各器件(例如集成电路)的DPA规范。
- 2.2.3制造商更改MSL后,必须提供重新分类测试数据并发出PCN。对于库存物料,建议制造商直接将其退回仓库,或根据更改后的MSL重新干燥、重新包装并贴上标签。