测试前,必须确保MSD干燥(在125℃下烘烤24小时)。具体浸泡条件见表2:
表 2. MSL 分类测试浸泡 (SOAK) 时间

上述测试默认包括供应商烘焙包装/分销商拆包的最大暴露时间(MET = 24 小时)。如果 MET ≠ 24 小时,则相应的浸泡时间可以相应增加或减少(标准条件:MET ± 1 小时对应于浸泡时间 ± 1 小时;加速条件:MET ± 5 小时对应于浸泡时间 ± 1 小时)。
活化能(单位为eV)表示不同封装材料的水分扩散能力,代表加速条件与标准条件之间的等效系数。在活化能条件下浸泡后进行测试,器件可能存在潜在的应力损伤风险。因此,测试前需要明确eV条件。如果上述表格中未包含材料的水分扩散活化能,可参考JESD22-A120标准进行确认。
封装更薄、体积更小的SMD在MSL分类过程中对回流焊温度的要求更高。根据不同的SMD封装结构和单板回流焊组装工艺,峰值回流焊温度的要求如下表3所示:
表3. MSL分类峰值回流焊温度

笔记2.4.1 上述封装体积不包括器件外部引线(或端子/凸球等)和嵌入式散热片所占据的体积。