Processamento a laser de femtossegundo para microperfuração em zona afetada por calor zero
1. Fundamentos e Vantagens
Lasers de femtossegundo (largura de pulso de 10-15s) permitem absorção não linear por meio de:
-
Ionização multifóton (MPI)
-
Ionização de avalanche (IA)
Principais benefícios: -
ZTA próxima de zero
-
Precisão submicrométrica (furos mínimos de 1 μm)
-
Adequado para materiais refletivos/transparentes
2. Mecanismos de ZTA Zero
2.1 Controle de Transferência de Energia
-
Não equilíbrio eletrônico-rede
-
Domínio da explosão de fase
-
Supressão de blindagem de plasma
2.2 Modelos de Remoção de Material
-
Explosão de Coulomb
-
Quebra de ligação não térmica
3. Parâmetros Críticos do Processo
Parâmetro | Faixa | Mecanismo |
---|---|---|
Comprimento de onda | 343-1030 nm | Aumento da absorção |
Energia de pulso | 0,1-50μJ | Controle do limiar de ablação |
Taxa de repetição | 10 kHz-10 MHz | Evitar o acúmulo de calor |
Focando | NA>0,7 | Redução do tamanho do ponto |
Digitalização | Caminho em espiral | Reformulação da minimização da camada |
4. Casos de Aplicação
-
Microvias de PCB de alta frequência:
-
20-50μm de diâmetro
-
Proporção de aspecto 10:1
-
Paredes laterais Ra
-
Perfuração de vidro TSV:
-
Sem rachaduras/afunilamento
-
100 furos/seg
-
Processamento de circuito flexível:
-
Substratos de PI livres de carbonização
-
largura de linha mínima de 5μm
5. Desafios e Soluções
Desafio 1: Instabilidade do material refletivo
Solução: Comprimento de onda ajustável (343+515 nm)
Desafio 2: Baixa eficiência em furos profundos
Solução: Modelagem do feixe de Bessel
Desafio 3: Consistência na produção em massa
Solução: Monitoramento de plasma em tempo real + controle adaptativo
6. Métodos de Caracterização
-
Micro-CT: morfologia 3D
-
Espectroscopia Raman: Análise de fase
-
TEM: Integridade da rede
-
Teste de condutividade: qualidade da parede