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DFMチェックによるソルダーマスク開口欠陥の回避
2025年2月24日
DFMチェックによるソルダーマスク開口部欠陥の回避 位置ずれや被覆不足といったソルダーマスク開口部(SMO)欠陥は、PCB製造において、はんだブリッジ、パッド汚染、信号短絡などの原因となる可能性があります。DFMチェックを実装することで、SMO欠陥を未然に防ぐことができます。
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SMTプロセス分析におけるC-SAMの役割
2025年2月22日
SMTプロセス分析におけるC-SAMの役割 1. C-SAM技術の基礎知識 C-SAM(共焦点走査型超音波顕微鏡)は、高度な非破壊検査技術です。その動作原理は、超音波の伝播特性に基づいています。
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多層PCBにおけるX/Y方向寸法ばらつき制御の専門的分析
2025年2月20日
多層 PCB の X/Y 方向の寸法変動の制御に関する専門的分析 多層 PCB の X (水平) 方向と Y (垂直) 方向の寸法変動は、位置のシフトによる層のずれを引き起こす重要な要因です...
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PCBプラギングインク工程における気泡除去の専門的分析
2025年2月19日
PCB プラギング インク プロセスにおける気泡除去の専門的分析 PCB プラギング プロセスでは、残留気泡によりビア充填が不完全になったり、硬化後のボイドが発生したり、はんだ付け不良や CAF (導電性陽極フィラメント) などの信頼性の問題が発生する可能性があります...
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セラミック基板のレーザードリリングパラメータ最適化の専門分析
2025年2月18日
セラミック基板のレーザードリリングパラメータ最適化の専門分析 セラミック基板 (Al₂O₃、AlN など) は、レーザードリリングにおいて、亀裂形成、熱影響部 (HAZ) の拡大、穴形状制御などの課題を引き起こします。
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高密度PCB電気テストにおけるテスト範囲選択の専門的分析
2025年2月17日
高密度PCBの電気テストにおけるテストカバレッジ選択の専門的分析 高密度PCBの製造において、適切なテストカバレッジを選択することは、品質、コスト、効率のバランスをとる上で非常に重要です。以下は、戦略を体系的に分析したものです。
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HDI基板検査における3Dレーザー測定の専門的分析
2025年2月15日
HDI基板検査における3Dレーザー計測の専門的分析 I. 3Dレーザー計測技術の概要 3Dレーザースキャンは、レーザー三角測量に基づく非接触・高精度の3次元検査技術です。3Dレーザースキャン画像から、基板の表面にレーザー光を投影することで、基板の表面にレーザー光を照射し、基板の表面にレーザー光を照射します。
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埋め込み抵抗器およびコンデンサ技術の実装方法と検出方法
2025年2月13日
埋め込みコンデンサ/抵抗器プロセスの実装および検出方法の詳細な分析 I. 埋め込みコンデンサ/抵抗器テクノロジの実装埋め込みコンデンサと抵抗器は、PCB 基板内に受動部品を統合し、表面実装部品を置き換えます。
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PCB製造における超薄型コア基板の加工
2025年2月11日
PCB 製造において、超薄型コアボード (厚さ 0.1 mm 未満) の加工は、主に従来のプロセス技術の適応性に対するその極めて薄い物理的特性の要件のために、一連の技術的課題に直面しています...
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プロフェッショナルなPCBおよびPCBAサービスプロバイダー
2025年2月10日
プロフェッショナルなPCBおよびPCBAサービスプロバイダー - MinintelMinintelは、プリント回路基板(PCB)およびプリント回路基板アセンブリ(PCBA)サービスのプロフェッショナルプロバイダーです。当社の使命は、世界中のお客様に高品質な製品とサービスを提供することです。
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